Neuer NI-PXI-Digitizer und Update zum NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit erhöhen Flexibilität und Leistung in traditionellen Oszilloskopanwendungen
Highlights
• Der Digitizer NI PXIe-5162 und das NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit verdeutlichen die Flexibilität und benutzerdefinierte Anpassbarkeit im Vergleich zu Stand-alone-Oszilloskopen.
• Durch die Verbindung des 4-Kanal-Digitizers NI PXIe-5162 mit der PXI-Plattform können Anwender ein Oszilloskop mit bis zu 68 Kanälen in einem Chassis mit nahtloser Synchronisation erstellen.
(industrietreff) - Pressemitteilung, 28. Januar 2013 – National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt den Digitizer NI PXIe-5162 und die aktualisierte Version des NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit vor. Dank einer vertikalen Auflösung von 10 bit und einer Sample-Rate von 5 GS/s können mit dem Digitizer Hochgeschwindigkeitsmessungen mit der vierfachen vertikalen Auflösung gegenüber einem 8-bit-Stand-alone-Oszilloskop durchgeführt werden. Die Bandbreite von 1,5 GHz sowie vier Kanäle in nur einem Steckplatz machen den NI PXIe-5162 zu einem Produkt, das sich für Digitizer-Systeme mit hoher Kanalanzahl im Fertigungstest, in der Forschung und der Charakterisierung eignet. Der Digitizer kann mit NI LabVIEW und dem LabVIEW Jitter Analysis Toolkit eingesetzt werden und enthält eine Bibliothek mit Funktionen speziell für Messungen mit hohem Durchsatz, automatische Jitter-Messungen, Augendiagramme und Phasenrauschmessungen. Das Toolkit ist daher für den Einsatz in automatisierten Validierungs- und Produktionsprüfsystemen geeignet.
Zitat
„Die Kombination aus Messungen mit hoher Geschwindigkeit, hoher Kanalanzahl und hoher Auflösung, die der Digitizer NI PXIe-5162 bietet, ermöglicht es Anwendern von Stand-alone-Oszilloskopen, im Bereich automatisierte Tests mit modularen Messgeräten der nächsten Generation arbeiten zu können“, erklärt Steve Warntjes, Director of Modular Instruments Research and Development bei National Instruments. „Der Einsatz von Hochgeschwindigkeits-Digitizern mit dem LabVIEW Jitter Analysis Toolkit unterstützt Ingenieure dabei, ihre Messsysteme dank der Verarbeitungsleistung moderner PCs anstelle von unveränderlichen Embedded-Prozessoren auf Stand-alone-Oszilloskopen zu beschleunigen.“
Eigenschaften des NI PXIe-5162
•Vertikale Auflösung von 10 bit für einen genaueren Überblick über das Signal
•Vier Kanäle in einem 3-HE-PXI-Express-Steckplatz und bis zu 68 Kanäle in einem PXI-Chassis
•Maximale Sample-Rate von 5GS/s auf einem Kanal bzw. 1,25 GS/s auf vier Kanälen gleichzeitig
Funktionen des LabVIEW Jitter Analysis Toolkit
•Integrierte Funktionen für Taktwiederherstellung, Augendiagramme, Jitter-, Pegel- und Timing-Messungen
•Beispielprogramme für Augendiagramme und Maskentests sowie die Trennung zufälligen/deterministischen Jitters mit Dual-Dirac- und spektrumbasierten Trennmethoden
Weitere Informationen
•Übersichtsseite: www.ni.com/digitizers/d
•Katalogseite: http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/de/nid/211146
•Whitepaper: http://www.ni.com/white-paper/14400/de
Themen in dieser Meldung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Über National Instruments
Seit 1976 stellt National Instruments (www.ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie schneller produktiv, innovativ und kreativ arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Kunden, Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
National Instruments Germany GmbH
Ganghoferstraße 70 b | 80339 München
Tel.: +49 89 7413130 | Fax: +49 89 7146035
info.germany(at)ni.com | ni.com/germany
National Instruments Germany GmbH
Eva Heigl, Marketing Communications Manager Central European Region
Ganghoferstraße 70 b | 80339 München
Tel.: +49 89 7413130 | Fax: +49 89 7146035
info.germany(at)ni.com | ni.com/germany
Datum: 26.02.2013 - 15:59 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 822988
Anzahl Zeichen: 0
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner:
Stadt:
Telefon:
Kategorie:
Automatisierungstechnik
Anmerkungen:
Diese HerstellerNews wurde bisher 680 mal aufgerufen.
Die Meldung mit dem Titel:
"Neuer NI-PXI-Digitizer und Update zum NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit erhöhen Flexibilität und Leistung in traditionellen Oszilloskopanwendungen
"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
National Instruments Germany GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).
Alle Meldungen von National Instruments Germany GmbH
Echtzeitmessungen helfen Molkereien, Produktverluste zu reduzieren, während die Nachhaltigkeitsziele für 2025 näher rücken
VINCI Startup Speed Dating 2024: „Smart Automation“
eVisibility Automatisierungstechnik: Einige Anbieter mit großen Sprüngen im Sichtbarkeitsranking
Smart Industry Days 2024: Experten diskutierten in Offenbach über die Zukunft der Industrie
Bedarfsanforderung digital optimieren